Исследования и разработки (R&D)

В настоящий момент коллектив НОЦ ФМНС выполняет работы по следующим направлениям, в т.ч. по заказу Минобрауки и Минпромторг:

  • ОКР «Разработка нанотехнологий упрочнения оптических материалов и оптических покрытий, работающих в УФ, видимом и ИК диапазонах спектра, с сохранением их спектральных характеристик» (ГК №12411.1400099.16.007 от "15" июня 2012 г.);
  • разработка электронно-лучевой установки и технологии обработки материалов;
  • ПНИ «Разработка экспериментального образца источника электрического питания с непосредственным преобразованием теплоты для транспортных систем различного назначения на базе высокоэффективных термогенераторных батарей, работающих в широком диапазоне температур» (проект от «29» сентября 2014 г. № 14.577.21.0113);
  • «Разработка образовательной программы профессиональной переподготовки и учебно-методического комплекса в области термобарьерных наноструктурированных покрытий деталей ГТД» (проект № 8/12 от «15» августа 2012 г.);
  • разработка технологий нанесения самосмазывающихся упрочняющих алмазоподобных покрытий на микроразмерный инструмент;
  • разработка высокотеплопроводных изоляционных покрытий на основе нитрида и оксида алюминия для применений в опто- и микроэлектронике;
  • разработка технологии защиты полимерных материалов от воздействий факторов космического пространства путем нанесения защитных наноструктурированных покрытий;
  • разработка технологии создания тонкопленочных термоэлектрических модулей;
  • разработка научных основ создания перспективных композиционных материалов, модифицированных наноразмерными структурами.

Применяемые методики в ЦКП:

  • Методика определения параметра дефектности поверхности строения кристаллической структуры поверхности материалов на основе кремния
  • Методика определения потери массы и содержание летучих конденсирующихся веществ при вакуумно-тепловом воздействии
  • Методика исследований термоэлектрических модулей (ноу-хау)
  • Методика экспериментального исследования деградационных явлений в многослойных наноразмерных полупроводниковых резонансно-туннельных гетероструктурах
  • Методика гранулометрического анализа нано- и микроразмерных порошков и суспензий методом лазерной дифракции
  • Методика определения оптических констант углеродных алмазоподобных покрытий методом ИК-спектральной эллипсометрии
  • Методика исследования морфологии и шероховатости поверхности методом атомно-силовой микроскопии
  • Микроскопы сканирующие зондовые семейств Solver и Ntegra (методика поверки)
  • Определение гранулометрического состава порошковой краски. Метод лазерной дифракции