Электронный микроскоп FEI (Нидерланды)

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп Phenom позволяет получать изображение поверхности образца с очень большим разрешением. Он предназначен для проведения исследований микро- и наноструктур поверхности исследуемого образца. Так возможно изучение морфологии поверхности, проведение измерений размеров, формы, ориентации и других параметров микро- и нанообъектов в диапазоне размеров от нескольких сантиметров до десятков нанометров с увеличением до 24,000х. FEI Phenom обеспечивает связующее звено между электронной и световой микроскопией, предлагая лучшее от обеих путем комбинации световой и электронно-оптической технологий в одну интегрированную, легкую в обращении микроскопную систему. 

Основные технические характеристики:

  • Диапазон увеличения: 20х – 24,000х
  • Пространственное разрешение – 30 нм
  • Источник электронов – кристалл CeB6
  • Ускоряющее напряжение электронов – 5 кВ
  • Рабочее давление – 10 мкПа
  • Хранение информации – USB 2.0 Flash Drive
  • Время загрузки образца: менее 30 сек
  • Размер образца (диаметр - высота) – вплоть до 25 мм в диаметре и до 35 мм в толщину
  • Управляем через сенсорный монитор
  • Опции формата изображения: JPEG, TIFF с разрешением до 2048*2048 пикселей
  • Габариты и вес модуля  получения изображения: 286 х 566 х 495 мм; 52 кг. (помещается на поверхности стола).

 

Области применения:

  • Производственный процесс и контроль качества.
  • Применение в металлургии.
  • Интегрированное обучение.
  • Фармацевтическая промышленность.
  • Исследовательские лаборатории.