Оптико-зондовый комплекс Ntegra Spectra (Россия)

Нанолаборатория «Интегра Спектра» - это интеграция атомно-силового микроскопа (АСМ) с конфокальной микроскопией и спектроскопией комбинационного рассеяния (КР) (англ. Raman spectroscopy).

Сочетание оптических и АСМ методов в одном приборе обеспечивает проведение комплексных экспериментов, в которых информация о распределении оптических свойств образца и его химического состава может быть наложена на его топографию, распределение электрических, магнитных и других свойств.

«Интегра Спектра» позволяет исследовать оптические свойства образца за пределом дифракции с использованием методов АСМ, сканирующей ближнепольной оптической микроскопии (СБОМ) и КР-спектроскопии.

Методы измерений:

  • Методики АСМ для измерения механических, электрических, магнитных свойств в различных динамических и статических режимах;
  • Широкопольная микроскопия и конфокальная лазерная (Рэлеевская) микроскопия (ист. лазера 488 нм);
  • Конфокальная КР-спектроскопия;
  • Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ);

Характеристики «Интегра Спектра»:

Модуль АСМ:

  • Диапазон сканирования по осям XY                      120 мкм;
  • Диапазон сканирования по оси Z                            9 мкм;
  • Макс. количество точек изображения                     1024х1024;
  • Уровень шумов, XY                                                  < 0,7 нм;
  • Уровень шумов, Z                                                     < 0,5 нм;
  • Условия измерений                                                   воздух

Конфокальная оптическая микроскопия/КР-спектроскопия:

  • Разрешение по осям XY                                           <400 нм;
  • Разрешение по оси Z                                                 <500 нм;\
  • Числовая апертура                                                     0,7; 0,95;
  • Источник лазерного излучения                               480 нм;
  • Система детектирования                                          ПЗС камера Andor iDus DV 401-BV

Сканирующая ближнепольная микроскопия:

  • Режим регистрирования                                           отражение;
  • Разрешение, XY                                                         <100 нм;
  • Выходная апертура                                                   < 100 нм;
  • Покрытие острия                                                       Va-Al

 

Требования к образцам:

  • Максимальный размер образца                                20х20х10 мм3;
  • Макс. вес образца                                                      100 г;