Сканирующий зондовый микроскоп JSPM-4610А (JEOL, Япония)

Сверхвысоковакуумный атомно-силовой микроскоп JSPM-4610A позволяет исследовать физико-химические свойства, дефектность поверхности и топографию с атомным разрешением. Микроскоп обладает высокой разрешающей способностью, позволяющей проводить исследования топографии и физико-химических свойств поверхности.

Характеристика:

  • Разрешение СТМ, АСМ – атомарное (на стандартных образцах Si)
  • Диапазон сканирования – XY – 3x3 мкм, Z – 2 мкм
  • Диапазон измерения туннельного тока – от 30 пА до 1 мкА
  • Диапазон измерения сил – от 10 пН до 10 нН
  • Диапазон напряжения смещения на образце – от 0 до ±10 В
  • Условия вакуума в аналит. камере – 1·10-8 Па
  • Осаждение пленок тугоплав. и легкоплав. металлов in-situ (Au, Ag, Cu, Al, Ti, W и др.)
  • Режимы: С-AFM, NC-AFM, STM, STS, multi-mode (до 4 сигналов)
  • Система охлаждения образца – до 50 К
  • Система ионной очистки – Ar и др. газы

Источники для дополнительной информации:

1. Binnig, G. Scanning tunneling microscopy / G.Binnig, H.Rohrer // Helvetica Physica Acta. – 1982. - V.55. - № 6. - P. 726 – 735. 

2. Binnig, G. Atomic force microscope / G.Binnig, C.F.Quate, Ch.Gerber // Physical Review Letters. – 1986. - V.56. - № 9. - P. 930 – 933. 

3. Tersoff, J. Theory and application for scanning tunneling microscope. / J. Tersoff and D. R. Hamann // Physical Review Letters. – 1983. - V.50. - P.1998-2001. 

4. В.Я.Демиховский, Д.О.Филатов / Исследование электронных состояний в низкоразмерных структурах методами сканирующей зондовой микроскопии // Изд-во ННГУ, Нижний Новгород, 2007, 89 с. 

5. Gwo, S. Cross-sectional scanning tunneling microscopy and spectroscopy of passivated III-V heterostructures. / S.Gwo, A.R.Smith, K.-J.Chao, C.K.Shih, K.Sadra, B.G.Streetman // Journal Vacuum Science and Technology. – 1994. - V.A12. - № 4. - P.2005 – 2008. 

6. Бахтизин, Р.З. Атомные структуры на поверхности GaAs (001), выращенной методами молекулярно-лучевой эпитаксии. / Р.З.Бахтизин, Т.Сакурай, Т.Хашицуме, К.-К.Щуе, // Успехи Физических Наук. – 1997. - T.167. - № 11. - C.1227 - 1241. 

7. D. Sarid, ‘Scanning Force Microscopy With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces’, Oxford University Press, 1991 T.R. Albecht, et al., J. Appl. Phys. 69, 668 (1991)